金相顯微鏡原理

金相顯微鏡原理

微分干涉金相顯微鏡是目前先進的顯微鏡產品。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結合,達到對被測物體的放大觀察的目的。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術**地結合在一起而開發(fā)研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。微分干涉相襯法(DIC)作為材料顯微分析中的一種先進分析檢驗方法，對金相樣品的制備要求不高。觀察到的樣品組分間相對層次關系突出，呈現(xiàn)明顯的浮雕形狀，能對顆粒、裂紋、孔洞、凸起等做出正確判斷。，并能輕易判斷出一些在很多明場下看不見或難以分辨的結構細節(jié)。然而，目前金相檢驗中很少使用DIC方法。

在金相顯微鏡檢驗研究方法中，微分形式干涉相襯法(DIC)是金相組織檢驗的一種具有強有力的工具，其特點主要為:

1. 減少了對制備金相樣品的要求，對某些樣品，即使不經蝕刻處理，也可以拋光觀察。 其優(yōu)點是可以觀察到樣品表面的真實狀態(tài)，例如，樣品拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變，并且可以觀察到馬氏體相變浮雕而沒有腐蝕。

2.觀察表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，可以顯示樣品各組分之間的相對水平關系，提高了金相檢驗的準確性，增加了相間的對比度。

3.用微分干涉相襯法觀察樣品，會看到很多在明場下看不到的細節(jié)。一些在明視野下難以分辨的結構細節(jié)或缺陷，通過微分干涉的對比度增強可以很容易地判斷出來。

4、微分干涉相襯法基于中國傳統(tǒng)的正交偏光法，又巧妙地利用了在渥拉斯頓棱鏡基礎上不斷改良的DIC棱鏡和補色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學干涉的方法染上豐富的色彩，從而導致可利用彩色膠卷或者通過數(shù)碼電子產品(CCD攝像頭設計以及對于數(shù)碼相機)分析彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與實際樣品細節(jié)的浮雕像以及文化色彩信息都是我們可以有效調節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。微分干涉相襯法在生物學習醫(yī)學教育領域得到了社會廣泛的重視，然而，到目前為止從發(fā)表的有關建筑材料金相實驗研究的論文中，國內外學者基于微分干涉相襯法相關材料金相研究的工作人員開展得很少。其原因影響主要有以下兩個重要方面:一方面是由于學生配備微分干涉相襯部件的金相顯微鏡不是因為很多；另一個人方面，許多不同材料管理科學知識工作者還沒有完全意識到微分干涉相襯法在材料作為研究中的優(yōu)勢。

差分干涉相位對比法基本原理：

1.差分干涉相位對比法所需的元件: 偏振器、偏振器、差分干涉相位對比組件插入板(DIK 組件插入板)和顏色補償器(λ- 板)。偏振片和偏振片是金相樣品正交各向異性偏振光觀測中必不可少的元件。它們也是光/金相照明組件和差分干涉相位對比法的重要組成部分。